全自動背光AOI檢測設(shè)備
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詳情描述
產(chǎn)品介紹：
此設(shè)備針對于背光源缺陷檢測，包含工序，自動上料、真空壓膜檢、人工撕膜、多CCD檢測、貼膜、卸料，可根據(jù)需求選擇撕膜檢或帶膜檢，也可選擇自動撕膜代替人工撕膜，生產(chǎn)效率高，過檢漏檢低等特點，主要應(yīng)用于手機(jī)、GPS、MP4、平板電腦、筆記本電腦、電腦顯示器等顯示屏背光源模組的組裝貼合。
技術(shù)參數(shù)：
1、漏檢率≤1%，過檢：12%
2、效率：4.5-5.0S/PCS
3、工作環(huán)境潔凈度：靜態(tài)100級
4、氣源壓力：≥0.5MPa
5、外形尺寸：L2000mm*W1600mm*H2300mm
