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AI800全自動(dòng)壓痕檢測(cè)機(jī)
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詳情描述
設(shè)備介紹:
1.1應(yīng)用領(lǐng)域:檢測(cè)導(dǎo)電粒子數(shù)量、強(qiáng)度、分布長(zhǎng)度、偏移量測(cè)定,自動(dòng)判定Bonding結(jié)果OK&NG;
1.2對(duì)應(yīng)原材料:IC Chip、FPC
1.3功能描述:檢查IC Chip、FPC、 壓痕偏移、壓痕導(dǎo)電粒子數(shù)目、壓痕導(dǎo)電粒子強(qiáng)度、壓痕導(dǎo)電粒子集中分布長(zhǎng)度、檢測(cè)區(qū)異物、檢測(cè)區(qū)單裂紋破片、檢測(cè)區(qū)破片、檢測(cè)區(qū)刮傷等不良項(xiàng)目;
1.4設(shè)備概要:主要用于bonding后粒子和偏移檢測(cè)。通過(guò)高解析顯微鏡,Auto Focus自動(dòng)對(duì)焦功能;針對(duì)IC Chip、FPC、 偏移、IC Chip 、FPC、 導(dǎo)電粒子數(shù)目及壓痕強(qiáng)度和FPC、 壓痕長(zhǎng)度、異物、破片(Bonding區(qū)) 等不良項(xiàng)目,將良品與不良品進(jìn)行分析判定分揀。

技術(shù)參數(shù):
1、漏檢率:≤0%
2、過(guò)檢率:≤1%
3、對(duì)位失誤率:≤0.1%
4、生產(chǎn)節(jié)拍:Tack time:7~8寸單顆IC+FPC檢查3.5s+搬入時(shí)間2s;雙片搬入(每增加一個(gè)IC/FPC增加1.5s~2s)
5、稼動(dòng)率:≥98%
6、故障間隔時(shí)間:≥1000小時(shí)
7、IC Bump上導(dǎo)電粒子平均數(shù)量:10顆以?xún)?nèi)±1顆,10顆以上±10%顆
8、新產(chǎn)品切換:≤120min
9、已有產(chǎn)品切換:≤45min
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